高分辨粒度儀主要用于測量納米材料的粒徑和粒度分布，其應用廣泛。校準方法：
1.確保儀器光學(xué)系統工作正常。光學(xué)窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分，因此測試前應保證光學(xué)窗口內外表面光潔，無(wú)劃痕，清潔，無(wú)缺損。光學(xué)基準譜平滑依次過(guò)渡，無(wú)明顯突起或凹陷。
2.外界條件對儀器的影響。外界條件主要包括環(huán)境的濕度，溫度和電源電壓的波動(dòng)對儀器測試結果的影響。
3.儀器測量重復性。將儀器預熱到規定時(shí)間，采用一種國家標準物質(zhì)進(jìn)行多次測試，一般測試樣品6～10次，記錄每次D50，計算測量平均值，標準偏差和相對標準偏差。
4.儀器測量相對誤差。與儀器重復性測量不同的是，儀器相對誤差的測試要采用至少三種樣品以上的國家標準物質(zhì)進(jìn)行測試，每種樣品獨立測量3次并分別求其平均值，獲得多個(gè)粒度測量的平均值，分別計算儀器測量平均值與粒度表標準物質(zhì)標準值間的相對誤差。
5.儀器分辨力。儀器分辨力的判斷是采用測試兩種樣品混合測試的方法，兩種粒度標準物質(zhì)的移取量要根據其質(zhì)量濃度而定，確?；旌虾蟮臉悠分袠藴饰镔|(zhì)的質(zhì)量濃度比為1:2，將樣品混合均勻后加入儀器進(jìn)行測量。應能夠從儀器測量粒度分布曲線(xiàn)圖中能夠觀(guān)察出2個(gè)獨立不相連的峰形，則認為雙峰已分。
